-
مطياف الأشعة تحت الحمراء القريبة KN-NIR
يعتمد مطياف الأشعة تحت الحمراء القريبة KN-NIR على تقنية تحويل فورييه MEMS المتقدمة. يلبي نطاق الطيف الاختياري للجهاز (1300-2600 نانومتر، 1150-1700 نانومتر، 1250-2100 نانومتر) احتياجات اختبار مؤشرات متعددة والبحوث. تتيح نسبة الإشارة إلى الضوضاء العالية تحليل معلمات العينات ذات المحتوى المنخفض. يحتوي الجهاز على معايرة مدمجة للطول الموجي لضمان تقليل الاختلاف بين المحطات وتحسين الاستقرار على المدى الطويل. كما أنه مزود بجهاز للتحكم في درجة الحرارة، مما يُحسّن استقرار البيانات.
Send Email تفاصيل
